簡單介紹

在開發新的發光材料過程中，提高它們的光致發光效率是至關重要的。提高該效率就需要測量量子效率的精確技術。

QES-PL光致發光量子效率測量系統針對器件的光致發光特性進行有效測量，其深制冷型背照式CCD具有高的靈敏度和信噪比，可以更加穩定快速得到結果。涂有PTFE涂料的積分球，光譜范圍覆蓋200-1100nm。可以支持粉末、薄膜和液體樣品的測量，Spectralon涂料在全譜波段擁有的高反射率，可以完全勻化入射光，去掉積分球反射不均勻對結果的影響，此系統能用于多種領域，包括工業、生物和學術研究等。

特點列表

測量精度高：采用深度制冷型面陣CCD的光纖光譜儀作為探測器，極大降低長積分時間下噪聲水平，提高測量精度。

操作簡單： Uspectral Plus專業光譜采集分析軟件，一鍵式操作。

功能齊全：可用于粉末、溶液、固體、薄膜樣品的測量。

系統配置

1）高功率氙燈

2）單色儀

3）積分球

4）液體采樣支架

5）光纖光譜儀

6）3根光纖

7）絕對輻射標準光源（附帶計量證書，絕對輻照度測量所需，另購）

  測試項目

量子效率測量

顏色指標、輻射指標與量子指標

標準燈校準絕對輻射

應用領域

無機光致發光

有機光致發光

EL器件封裝前體

操作軟件